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Advanced Simulation and Test Methodologies for VLSI Design

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Details
Schlagworte

Titel: Advanced Simulation and Test Methodologies for VLSI Design
Autoren/Herausgeber: G. Russell, I.L. Sayers
Ausgabe: 1989

ISBN/EAN: 9780747600015

Seitenzahl: 378
Format: 23,4 x 15,6 cm
Produktform: Hardcover/Gebunden
Gewicht: 1,610 g
Sprache: Englisch

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