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Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

von
Springer US,
Buch
101,64 € Lieferbar in 5-7 Tagen
Details
Schlagworte

Titel: Advances in X-Ray Analysis
Autoren/Herausgeber: C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith (Hrsg.)
Ausgabe: Softcover reprint of the original 1st ed. 1992

ISBN/EAN: 9781461365327

Seitenzahl: 641
Format: 24,4 x 17 cm
Produktform: Taschenbuch/Softcover
Gewicht: 1,099 g
Sprache: Englisch

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