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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

Springer US,
Buch
266,43 € Lieferbar in 5-7 Tagen

Kurzbeschreibung

The Second Edition explores several new applications of EELS developed during the last ten years. Chapters include recent progress in parallel-recording detectors and image-filtering systems as well as spectral fine structure. This edition also features updated computer programs which will perform spectrum deconvolution and compute partial ionization cross-sections.

Details
Schlagworte

Titel: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Autoren/Herausgeber: R.F. Egerton
Ausgabe: 2., nd ed.

ISBN/EAN: 9780306452239

Seitenzahl: 500
Format: 23,5 x 15,5 cm
Produktform: Hardcover/Gebunden
Gewicht: 1,930 g
Sprache: Englisch

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