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Untersuchung von Korrosionsschutzadditiven auf technischen Oberflächen mittels clusterinduzierter Sekundärionen-Flugzeitmassenspektrometrie

Sierke Verlag,
Buch
42,00 € Preisreferenz Lieferbar in 2-3 Tagen

Kurzbeschreibung

Die Sekundärionen-Flugzeitmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglicht es die chemische Wirksamkeit von Korrosionsschutzadditiven nachzuweisen. In diesem Buch wird ein einfacher Weg der dieses ermöglicht am Beispiel von technischen und großtechnischen erzeugten Produkten, welche sich an Erzeugnissen der Stahlindustrie anlehnen, aufgezeigt.
Um eine möglichst realistische aber reproduzierbare Messung durchzuführen, wurde im Labormaßstab ein Reinigungsverfahren entwickelt, welches sich auch in der Produktion wieder findet. Es werden diverse Methoden zur Charakterisierung der metallischen Substratoberfläche solcher unbehandelten Proben aufgezeigt und durch zahlreiche Messungen belegt. In einem zweiten Schritt werden selbstapplizierende Monolagen von Korrosionsschutzadditiven (Triazolen) auf das gewünschte Substrat aufgebracht und mit den vorher charakterisierten Blindproben verglichen.
Es wurde herausgefunden, dass die Triazole Irgamet 30™ und Irgamet 39™ chemisch insbesondre an die FeO- und ZnO- Stöchiometrie anbinden. Das Irgamet 34™ ist ein gutes Beispiel dafür, dass die Seitenkette nicht nur die Löslichkeit im Prozessmedium beeinflusst sondern auch die chemische Anbindung an die Oberfläche selber.

Details
Schlagworte

Titel: Untersuchung von Korrosionsschutzadditiven auf technischen Oberflächen mittels clusterinduzierter Sekundärionen-Flugzeitmassenspektrometrie
Autoren/Herausgeber: David Poerschke
Ausgabe: 1. Auflage

ISBN/EAN: 9783868445862

Seitenzahl: 176
Format: 21 x 14,8 cm
Produktform: Taschenbuch/Softcover
Gewicht: 240 g
Sprache: Deutsch

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